D1のベンがIIRWで発表

10/17/2010

  博士1年のベン・デブリンがカリフォルニアにて行われたInternational Integrated Reliability Workshopにて発表しました。
  表題：「Evaluation on the Reliable Operation of a Gate-Level Pipelined Self Synchronous System Against PVT and Aging」