カーン助教とM2の織田がIEEE SASで発表

03/14/2017

カーン助教とM2の織田がIEEE Sensors Applications Symposium (SAS)で発表を行いました。

発表タイトル

Experimental Demonstration of Non-Destructive Detection of IGBT Fault Positions by Magnetic Sensor
Analysis of VLSI Power Supply Network based on Current Estimation through Magnetic Field Measurement